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ADC、PLL等精密測試關(guān)鍵技術(shù)大揭秘! -
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在線(xiàn)研討會(huì ):ADC、PLL等精密測試關(guān)鍵技術(shù)大揭秘?。?月8日)

超低相噪精密測試應用關(guān)鍵技術(shù)(ADC/DAC測試、計量校準、三階交調失真測試、本振替代、鎖相環(huán)測試等)

2024年5月8日 星期三 下午 19:00-20:30
中星聯(lián)華科技(北京)有限公司

會(huì )議簡(jiǎn)介:

信號源對工程師來(lái)講都不陌生,面對待測件高頻、高速、高精度的特點(diǎn),傳統的信號源已經(jīng)不能滿(mǎn)足測試的要求,怎樣幫助您快速精準測試呢?您希望擁有一個(gè)完全干凈純粹的信號源嗎?您有了解過(guò)晶振級的微波源嗎?中星聯(lián)華攜SLFS-Pro超低相噪微波信號源來(lái)襲,助力超純凈、超精密測試!

精益求精,源為心動(dòng)。本次直播將揭秘精密測試關(guān)鍵技術(shù),詳細講解中星聯(lián)華超低相噪微波信號源的6大核心特色,如何助力6大應用領(lǐng)域,將集中講解ADC/DAC 測試、計量校準、三階交調失真測試、本振替代、鎖相環(huán)測試、SLFS-Pro 信號源自動(dòng)化編程等內容,并進(jìn)行現場(chǎng)demo演示,幫助工程師進(jìn)行精準測試,解決尖端測試的苛刻要求,使測試更加精準。

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