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PCB參數測試的挑戰與應對 -
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在線研討會:PCB參數測試的挑戰與應對(8月2日)
PCB參數測試的挑戰與應對
2024年8月2日 星期五 上午 10:00-12:00
Keysight Technologies, Inc

會議簡介:

PCB作為 “電子產品之母”,在整個電子產品的產業鏈中是關鍵的基礎性環節。隨著物聯網技術,汽車電子,5G通信等下游應用領域的發展展,PCB市場在中國具有廣闊的發展空間。為了滿足不同應用的信號完整性的要求,PCB不僅要測試S參數、TDR阻抗,還需要對材料本身的物理特性介電常數、介電損耗進行分析。準確的介電常數不僅可以實現有效設計,還可以使得仿真和產品的真實測試結果更符合,提高設計開發的效率。

本專題會討論目前PCB上的各種主流阻抗、損耗和Dk/Df的測試挑戰及其測試方案,主要包括S參數、TDR、PCB上的夾具提取去嵌(AFR)技術和原始材料與傳輸線上的Dk/Df測試等內容,歡迎有興趣的伙伴參加我們的網上研討會并參與相關技術和測試方案的討論!

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